便携式红外测温仪的红外技术

1. 便携式红外测温仪的红外技术

及其原理的无异议的理解为其精确的测温。当由红外测温仪测温时，被测物体发射出的红外能量，通过红外测温仪的光学系统在探测器上转换为电信号，该信号的温度读数显示出来，有几个决定精确测温的重要因素，最重要的因素是发射率、视场、到光斑的距离和光斑的位置。发射率，所有物体会反射、透过和发射能量，只有发射的能量能指示物体的温度。当红外测温仪测量表面温度时，仪器能接收到所有这三种能量。因此，所有红外测温仪必须调节为只读出发射的能量。测量误差通常由其它光源反射的红外能量引起的。有些红外测温仪可改变发射率，多种材料的发射率值可从出版的发射率表中找到。其它仪器为固定的予置为0.95的发射率。该发射率值是对于多数有机材料、油漆或氧化表面的表面温度，就要用一种胶带或平光黑漆涂于被测表面加以补偿。使胶带或漆达到与基底材料相同温度时，测量胶带或漆表面的温度，即为其真实温度。距离与光斑之比，红外测温仪的光学系统从圆形测量光斑收集能量并聚焦在探测器上，光学分辨率定义为红外测温仪到物体的距离与被测光斑尺寸之比（D:S）。比值越大，红外测温仪的分辨率越好，且被测光斑尺寸也就越小。激光瞄准，只有用以帮助瞄准在测量点上。红外光学的最新改进是增加了近焦特性,可对小目标区域提供精确测量，还可防止背景温度的影响。视场，确保目标大于红外测温仪测量时的光斑尺寸，目标越小，就应离它越近。当精度特别重要时，要确保目标至少2倍于光斑尺寸。

2. 红外测温技术跟红外技术有什么关系?并简述它们的发展史！

你这个问题太大了。
 
红外技术是研究红外辐射的产生及传播、如何转换、如何测量、如何应用到实际问题的一门技术学科，其实质又是光学研究的一个分支。主要常见的有红外通信、红外导引（导弹的红外导引头等）、红外遥感遥测、红外光谱分析（如红外碳硫分析等）、红外测温、红外热成像、带测温的红外成像、红外测速等。可以部分参见百度内容：http://baike.baidu.com/view/39191.htm，中间也有一部分其发展史。
 
红外测温技术是红外技术的一个分支，主要研究如何应用红外技术到温度测量，涉及到光学、机械、电气，是光机电一体化产品。目前来看，红外测温技术包含5个方面：
1) 红外探测器，含单元红外探测器、多元红外探测器、红外阵列探测器; 是红外技术也是红外测温技术的核心部件；
2) 常见的红外测温仪，测量1个点的温度，这个点是光学意义上的点，俗称光斑；
3) 红外扫描热像仪或红外扫描测温仪，测量1条线上的温度分布，由多条温度测量线组成整个物体的热图像，对整个物体的外形温度分布获得一个基本轮廓，这二者的不同参见http://www.kingae.com/bbs/Show.Asp?ID=188；
4) 红外热成像仪，测量1个面的温度分布，直接获取物体的二维热图像；
5)黑体炉，又称红外标定源、黑体辐射炉、黑体辐射源，用于1)~4)的红外温度产品的标定。
 
你可以从德国DIAS红外公司的产品中找到上述任何一款你需要的产品，德国DIAS红外公司的网站：www.dias-infrared.com  , 中文网站：www.dias-infrared.com.cn  ，总代理和中国代表处：上海皇龙自动化工程有限公司 www.kingae.com 。

3. 工业用红外测温仪的红外测温

通俗地讲热像仪就是将物体发出的不可见红外能量转变为可见的热图像。热图像的上面的不同颜色代表被测物体的不同温度。通过查看热图像,可以观察到被测目标的整体温度分布状况,研究目标的发热情况,为工作和研究提供判断依据。我们常用的热像仪属于被动热像测试，很安全。红外线根据大气窗口，分为近红外、短波红外、中波红外、长波红外。长波红外可以透过空气观测，不能透过墙壁和玻璃观测，并且具有全天候成像、非接触测温、透烟雾观测的优势。
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4. 工业用红外测温仪的红外测温

红外测温仪器的种类红外测温仪器主要有3种类型：红外热像仪、红外热电视、红外测温仪（点温仪）。60年代我国研制成功第一台红外测温仪，1990年以后又陆续生产小目标、远距离、适合电业生产特点的测温仪器，美国生产的雷泰测温仪；国产的TI51/41系列红外测温仪等也有较广泛的应用。 红外测温仪工作原理了解红外测温仪的工作原理、技术指标、环境工作条件及操作和维修等是用户正确地选择和使用红外测温仪的基础。红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇集其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件以及位置决定。红外能量聚焦在光电探测仪上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路按照仪器内部的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。除此之外，还应考虑目标和测温仪所在的环境条件，如温度、气氛、污染和干扰等因素对性能指标的影响及修正方法。一切温度高于绝对零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。物体的红外辐射能量的大小及其按波长的分布——与它的表面温度有着十分密切的关系。因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度，这就是红外辐射测温所依据的客观基础。黑体辐射定律：黑体是一种理想化的辐射体，它吸收所有波长的辐射能量，没有能量的反射和透过，其表面的发射率为1。应该指出，自然界中并不存在真正的黑体，但是为了弄清和获得红外辐射分布规律，在理论研究中必须选择合适的模型，这就是普朗克提出的体腔辐射的量子化振子模型，从而导出了普朗克黑体辐射的定律，即以波长表示的黑体光谱辐射度，这是一切红外辐射理论的出发点，故称黑体辐射定律。物体发射率对辐射测温的影响：自然界中存在的实际物体，几乎都不是黑体。所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。因此，为使黑体辐射定律适用于所有实际物体，必须引入一个与材料性质及表面状态有关的比例系数，即发射率。该系数表示实际物体的热辐射与黑体辐射的接近程度，其值在零和小于1的数值之间。根据辐射定律，只要知道了材料的发射率，就知道了任何物体的红外辐射特性。影响发射率的主要因纱在：材料种类、表面粗糙度、理化结构和材料厚度等。当用红外辐射测温仪测量目标的温度时首先要测量出目标在其波段范围内的红外辐射量，然后由测温仪计算出被测目标的温度。单色测温仪与波段内的辐射量成比例；双色测温仪与两个波段的辐射量之比成比例。红外系统：红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。

5. 工业用红外测温仪的红外测温

非接触红外测温仪包括便携式、在线式和扫描式三大系列，并备有各种选件和计算机软件，每一系列中又有各种型号及规格。在不同规格的各种型号测温仪中，正确选择红外测温仪型号对用户来说是十分重要的红外检测技术是“九五”国家科技成果重点推广项目，红外检测是一种在线监测(不停电)式高科技检测技术，它集光电成像技术、计算机技术、图像处理技术于一身，通过接收物体发出的红外线(红外辐射)，将其热像显示在荧光屏上，从而准确判断物体表面的温度分布情况，具有准确、实时、快速等优点。任何物体由于其自身分子的运动，不停地向外辐射红外热能，从而在物体表面形成一定的温度场，俗称“热像”。红外诊断技术正是通过吸收这种红外辐射能量，测出设备表面的温度及温度场的分布，从而判断设备发热情况。目前应用红外诊技术的测试设备比较多，如红外测温仪、红外热电视、红外热像仪等等。像红外热电视、红外热像仪等设备利用热成像技术将这种看不见的“热像”转变成可见光图像，使测试效果直观，灵敏度高，能检测出设备细微的热状态变化，准确反映设备内部、外部的发热情况，可靠性高，对发现设备隐患非常有效。

6. 高温红外测温仪的红外系统

红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。选择红外测温仪可分为三个方面：性能指标方面，如温度范围、光斑尺寸、工作波长、测量精度、响应时间等；环境和工作条件方面，如环境温度、窗口、显示和输出、保护附件等；其他选择方面，如使用方便、维修和校准性能以及价格等，也对测温仪的选择产生一定的影响。随着技术和不断发展，红外测温仪最佳设计和新进展为用户提供了各种功能和多用途的仪器，扩大了选择余地。 测温范围是测温仪最重要的一个性能指标。产品覆盖范围为-50℃- +3000℃，但这不能由一种型号的红外测温仪来完成。每种型号的测温仪都有自己特定的测温范围。因此，用户的被测温度范围一定要考虑准确、周全，既不要过窄，也不要过宽。根据黑体辐射定律，在光谱的短波段由温度引起的辐射能量的变化将超过由发射率误差所引起的辐射能量的变化，因此，测温时应尽量选用短波较好。确定目标尺寸：红外测温仪根据原理可分为单色测温仪和双色测温仪（辐射比色测温仪）。对于单色测温仪，在进行测温时，被测目标面积应充满测温仪视场。建议被测目标尺寸超过视场大小的50%为好。如果目标尺寸小于视场，背景辐射能量就会进入测温仪的视声符支干扰测温读数，造成误差。相反，如果目标大于测温仪的视场，测温仪就不会受到测量区域外面的背景影响。 其温度是由两个独立的波长带内辐射能量的比值来确定的。因此当被测目标很小，没有充满现场，测量通路上存在烟雾、尘埃、阻挡对辐射能量有衰减时，都不会对测量结果产生影响。甚至在能量衰减了95%的情况下，仍能保证要求的测温精度。对于目标细小，又处于运动或振动之中的目标；有时在视场内运动，或可能部分移出视场的目标，在此条件下，使用双色测温仪是最佳选择。如果测温仪和目标之间不可能直接瞄准，测量通道弯曲、狭小、受阻等情况下，双色光纤测温仪是最佳选择。这是由于其直径小，有柔性，可以在弯曲、阻挡和折叠的通道上传输光辐射能量，因此可以测量难以接近、条件恶劣或靠近电磁场的目标。确定光学分辨率（距离系灵敏）光学分辨率由D与S之比确定，是测温仪到目标之间的距离D与测量光斑直径S之比。如果测温仪由于环境条件限制必须安装在远离目标之处，而又要测量小的目标，就应选择高光学分辨率的测温仪。光学分辨率越高，即增大D：S比值，测温仪的成本也越高。确定波长范围：目标材料的发射率和表面特性决定测温仪的光谱响应或波长。对于高反射率合金材料，有低的或变化的发射率。在高温区，测量金属材料的最佳波长是近红外，可选用0.18-1.0μm波长。其他温区可选用1.6μm、2.2μm和3.9μm波长。由于有些材料在一定波长是透明的，红外能量会穿透这些材料，对这种材料应选择特殊的波长。如测量玻璃内部温度选用1.0μm、2.2μm和3.9μm（被测玻璃要很厚，否则会透过）波长；测量玻璃内部温度选用5.0μm波长；测低区区选用8-14μm波长为宜；再如测量聚乙烯塑料薄膜选用3.43μm波长，聚酯类选用4.3μm或7.9μm波长。厚度超过0.4mm选用8-14μm波长；又如测火焰中的CO2用窄带4.24-4.3μm波长，测火焰中的CO用窄带4.64μm波长，测量火焰中的NO2用4.47μm波长。 型号  TID41  TID51  测量范围  300℃ -- 1200℃  600℃ -- 2000℃  测量精度  读数值的±1%或±1℃  重复精度  ±2‰  光学分辨率（距离系数）  120：1（最小可测4.2mm）/250:1（最小可测2.0mm）  显示分辨率  1℃  显示方式  4位LCD  功能  最大值/最小值/平均值/上下限报警  发射率  0.1—1.00  响应时间  标配200ms  瞄准方式  目视瞄准  有效测量距离  0.50～∞（m）  输出接口  全隔离12bit模拟信号输出：4～20mA带继电器触点和声光指示的两个多模式报警点  环境温度  0℃-- 60℃测头加水冷套时气冷：0～120℃；水冷：0～175℃  相对湿度  0 RH -80%RH 不结露  电源  AC200V±10%小于6瓦  尺寸  60×210 mm（测头尺寸）160×80×125mm（仪表尺寸）96×96×125（仪表尺寸）  仪器重量  600g+750g  选购配件  固定安装架、三角架、水冷套、吹尘器多种模式的扩展报警，微打接口，大显示屏，记录单元  确定响应时间：响应时间表示红外测温仪对被测温度变化的反应速度，定义为到达最后读数的95%能量所需要时间，它与光电探测器、信号处理电路及显示系统的时间常数有关。红外测温仪响应时间可达1ms。这要比接触式测温方法快得多。如果目标的运动速度很快或测量快速加热的目标时，要选用快速响应红外测温仪，否则达不到足够的信号响应，会降低测量精度。然而，并不是所有应用都要求快速响应的红外测温仪。对于静止的或目标热过程存在热惯性时，测温仪的响应时间就可以放宽要求了。因此，红外测温仪响应时间的选择要和被测目标的情况相适应。信号处理功能：测量离散过程（如零件生产）和连续过程不同，要求红外测温仪有信号处理功能（如峰值 保持、谷值保持、平均值）。如测温传送带上的玻璃时，就要用峰值保持，其温度的输出信号传送至控制器内。环境条件考虑：测温仪所处的环境条件对测量结果有很大影响，应加以考虑并适当解决，否则会影响测温精度甚至引起测温仪的损坏。当环境温度过高、存在灰尘、烟雾和蒸汽的条件下，可选用厂商提供的保护套、水冷却、空气冷却系统、空气吹扫器等附件。这些附件可有效地解决环境影响并保护测温仪，实现准确测温。在确定附件时，应尽可能要求标准化服务，以降低安装成本。当烟雾、灰尘或其他颗粒降低测量能量信呈悍，双色测温仪是最佳选择。在噪声、电磁场、震动或难以接近环境条件下，或其他恶劣条件下，光纤双色测温仪是最佳选择。在密封的或危险的材料应用中（如容器或真空箱），测温仪通过窗口进行观测。材料必须有足够的强度并能通过所用测温仪的工作波长范围。还要确定操作工是否也需要通过窗口进行观察，因此要选择合适的安装位置和窗口材料，避免相互影响。在低温测量应用中，通常用Ge或Si材料作为窗口，不透可见光，人眼不能通过窗口观察目标。如操作员需要通过窗口目标，应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料，如应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料，如ZnSe或BaF2等作为窗口材料。操作简单，使用方便：红外测温仪应该是直观的，操作简单，易于被操作人员使用，其中便携式红外测温仪是一种集测温和显示输出为一体的小型、轻便、由人携带进行测温的仪器，在显示面板上可显示温度和输出各种温度信息，有的可通过遥控或通过计算机软件程序操作。在环境条件恶劣复杂的情况下，可以选择测温头和显示器分开的系统，以便于安装和配置。可选择与现行控制设备相匹配的信号输出形式。红外辐射测温仪的标定：红外测温仪必须经过标定才能使它正确地显示出被测目标的温度。如果所用的测温仪在使用中出现测温超差，则需退回厂家或维修中心重新标定。。

7. 发射率对红外热像仪温度测量的影响，求详述！！

材料表面发射率较高时，测量精度高。文件较大，通过邮箱发给你PDF文件，hjm_2347_sina.con
目前, 红外成像技术已经广泛应用于军事领
域, 成为现代武器装备的重要技术。红外成像系
统的研制, 离不开靶场实验, 因此, 研究能够模拟
各种军事目标红外辐射特性的红外靶标有着极其
重要的现实意义。红外靶标系统中, 红外热像仪
负责实时监测红外靶标各区域的温度, 红外靶标
系统根据红外热像仪测量的温度, 调整各区域的
温度, 使红外靶标系统的红外辐射特性接近被模
拟目标。在红外靶标系统研制过程中, 红外靶标
系统的表面发射率对红外热像仪测温精度影响很
大, 由此直接影响红外靶标系统的精度。为了提
高红外热像仪的测温精度, 本文详细分析了红外
靶标系统的表面发射率对红外热像仪测温精度的
影响, 旨在为红外靶标系统表面材料的选择提供
依据。
2.. 红外热像仪测温原理
.. .. 本文的实验均采用TP8 型长波红外热像仪。
对于近距离探测而言, 不考虑大气衰减, 当目标表
面满足灰体模型, 到达红外热像仪镜头前的总能
量应为目标红外辐射的能量与目标反射的环境辐
射能量, 故有下式成立[ 1~ 5] :
Lm = ..Lt + ( 1- ..) Lb, ( 1)
式中Lm为到达镜头前的总辐射亮度, L t为目标的
辐射亮度, Lb为环境的辐射亮度, ..为目标表面发
射率。
由于灰体的反射和发射均是漫反射的, 因此
辐射亮度L 与辐射出射度M 存在如下关系[ 6, 7] :
L =
M
.., ( 2)
TP8型长波红外热像仪的波长范围为8~ 14 ..m,
由普朗克辐射定律, 有下式成立[ 6~ 8] :
M t = ..14
8
c1 ..- 5
ec 2/..T t - 1
d.., ( 3)
Mb = ..14
8
c1 ..- 5
ec 2/..T b - 1
d.., ( 4)
式中M t为目标的辐射出射度, Mb为环境的辐射出
射度, Tt为目标绝对温度, Tb为环境绝对温度, ..
为波长, c1为第一辐射常数( 3..741 8 .. 10- 16 W ..
m2 ), c2为第二辐射常数( 1..438 8 .. 10- 2 m.. K )。
将式( 2)、( 3)、(
4)代入式( 1)得:
Lm =
..
.. ..14
8
c1 ..- 5
ec2 /..Tt - 1
d..+
1 - ..
.. ..14
8
c1 ..- 5
e
c
2
/..T
b - 1
d... ( 5)
.. .. TP8型长波红外热像仪根据设置的目标表面
发射率和采集的环境温度, 结合测得的辐射亮度,
由式( 5)得出目标的温度。
3.. 目标表面发射率对测温精度的影响
.. .. 由普朗克辐射定律, 可以认为L t是Tt为自变
量的函数, 记作:
L t = f (T t ) =
1
.. ..14
8
c1 ..- 5
ec 2/..T t - 1
d.., ( 6)
则有:
T t = f
- 1
( Lt ) . ( 7)
.. .. 为便于分析和数值计算, 将影响红外热像仪
测温精度的因素用差分形式表示:
..T t = f
- 1
(L t + ..L t ) - f
- 1
( Lt ), ( 8)
由式( 1)可得:
..Lt =
Lb - Lm
..2 .. ....-
1 - ..
..
..Lb, ( 9)
其中:
..Lb = f (Tb + ..T b ) - f (Tb ), ( 10)
根据式( 8)、( 9)、( 10) , 可以计算红外热像仪测温
误差。
从上述分析可以看到, 红外热像仪的测温误
差..Tt取决于....、..、..Tb、Tb和Lm。为了说明目标
表面发射率对红外热像仪测温精度的影响, 本文
假定环境温度293..15 K, 目标温度308..15 K, 对
目标表面发射率为0..95、0..7、0..5、0..3 时分别进
行理论计算, 其结果如图1所示。
分析图1可知, 红外热像仪在测量目标表面
真实温度时, 目标表面发射率越小, 红外热像仪测
温误差越大; 目标表面发射率越大, 红外热像仪测
温误差越小。此外, 红外热像仪设置的目标表面
发射率误差和采集的环境温度误差也对红外热像
仪测温误差有着很大的影响。根据以上分析, 红
第2期.. .. .. .. .. 胡剑虹, 等:目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响153

外热像仪应当避免测量目标表面发射率很小的目标温度。
图1.. 热像仪测量温度误差曲线图
F ig. 1.. Erro r curves of the rma l infrared im ager in m easuring tem pe ra ture
4.. 红外靶标表面发射率范围的确定
.. .. 为了确定TP8型长波红外热像仪能够精确
测温的目标表面发射率的范围, 为红外靶标系统
设计提供依据, 本文对红外热像仪采集的图像的
某一点(图像中温度最高点) , 通过设置不同的目
标表面发射率, 获得不同的温度值。
实验时, 红外热像仪记录的环境温度为
299..95 K, 根据式( 5) , 可以计算Lm的值。由于红
外热像仪在相同环境下测温同一目标, Lm应为固
定值。若计算的Lm偏离这个固定值, 则可认为设
置的目标表面发射率超出红外热像仪能够精确测
温的目标表面发射率的范围。
本文设置的目标表面发射率从0..2 ~ 0..97,
对应的测量温度和Lm如表1所示。
表1.. 目标表面发射率与总辐射亮度关系表
Table 1.. R elation be tween surface emissivity and to tal radiance lum inance
.. Tt /K Lm / (W /( sr.. m2 ) ) .. T t /K Lm /(W /( sr.. m2 ) )
0. 97 317. 75 70. 52 0. 60 327. 55 70. 51
0. 96 317. 85 70. 45 0. 58 328. 35 70. 48
0. 95 318. 05 70. 48 0. 56 337. 35 70. 48
0. 94 320. 05 70. 50 0. 54 338. 35 70. 49
0. 93 322. 05 70. 52 0. 52 339. 35 70. 48
0. 92 324. 05 70. 53 0. 50 340. 45 70. 47
0. 91 325. 05 70. 45 0. 48 341. 55 70. 42
0. 90 328. 05 70. 54 0. 46 342. 85 70. 44
154 .. .. .. .. .. 中国光学与应用光学.. .. .. .. 第3卷..

续表1
.. Tt /K Lm / (W /( sr.. m2 ) ) .. T t /K Lm /(W /( sr.. m2 ) )
0. 88 319. 45 70. 54 0. 44 336. 05 70. 39
0. 86 319. 85 70. 52 0. 42 337. 55 70. 39
0. 84 320. 25 70. 50 0. 40 339. 15 70. 38
0. 82 320. 75 70. 53 0. 38 340. 95 70. 39
0. 80 321. 25 70. 55 0. 36 343. 15 70. 50
0. 78 321. 75 70. 55 0. 34 346. 15 70. 83
0. 76 322. 25 70. 53 0. 32 350. 15 71. 44
0. 74 322. 75 70. 50 0. 30 352. 85 71. 41
0. 72 323. 35 70. 51 0. 28 355. 75 71. 33
0. 70 323. 95 70. 51 0. 26 359. 05 71. 25
0. 68 324. 65 70. 55 0. 24 362. 85 71. 18
0. 66 325. 25 70. 49 0. 22 367. 15 71. 09
0. 64 325. 95 70. 48 0. 20 372. 15 70. 99
0. 62 326. 75 70. 51
.. .. 从表1 可以看到, 当目标表面发射率> 0..5
时, Lm的值基本在70..5W / ( sr.. m
2
)左右; 当目标
表面发射率< 0..5 时, 特别是目标表面发射率
< 0..36时, Lm的值偏离固定值很大。这个特性是
根据发射率选择红外靶标表面材料的依据。
图2.. 不同表面发射率材料的红外图像
Fig. 2.. In frared picture of differentm a terials w ith d ifferent
surface em issiv ities
5.. 实验结果
.. .. 为了直观地反映材料表面发射率对测温精度
的影响, 本文在环境温度为302..65 K 时, 用TP8
型长波红外热像仪对表面发射率为0..96( R3 )、
0..93( R1)和0..3(R2)的3种材料进行测温, 其结
果如图2所示。
本文采用测温精度为0..2 K 的手持式测温仪
测温, 材料温度约为303..15 K。结果表明, 红外
热像仪对低表面发射率材料的测温精度很低。
6.. 结.. 论
.. .. 本文分析了目标表面发射率对红外热像仪测
温精度的影响, 并通过实验验证了只有较高的表
面发射率才能保证红外热像仪测温点的结论。根
据这个结论, 红外靶标系统选择表面发射率为
0..94的碳纤维布作为红外靶标的表面材料, 保证
了红外靶标系统的精度。

8. 红外线测温 影响因素

可能原因：
1 发射率没有设对
2 除空气外附近还有其他高温物体，该高温物体发射的红外线通过金属表面反射到红外测温仪中
3 金属的直径小于测温仪的光斑尺寸
4 红外测温仪所处的环境温度超过红外测温仪的工作温度造成仪器不能正常工作